關(guān)于低對比度分辨力檢測模體的使用方法簡單介紹
點擊次數(shù):949 更新時間:2022-05-09
低對比度分辨力檢測模體由一定厚度的圓形純鋁板構(gòu)成,其上加工有一組不同深度的圓孔,構(gòu)成不同的低對比度規(guī)格,用于X射線機低對比度分辨力的檢測。使用時,將模體置于X射線機與探測器之間,X射線束垂直入射,曝光后觀察影像,調(diào)節(jié)觀察條件以獲得測試結(jié)果。
低對比度分辨力檢測模體的使用方法:
1、首先就需要確定好標(biāo)版的材料、尺寸、倍數(shù)。
2、安裝測試卡。一般講測試卡安裝在平滑墻面上,固定好測試卡即可使用。
3、然后根據(jù)測試卡的尺寸來確定拍攝距離。原則上應(yīng)該選擇能讓有效高度正好充滿畫面的測試卡。
拍攝范圍的選取應(yīng)該注意:
a.測試卡有效高度充滿畫面時,測試卡的4:3區(qū)域也應(yīng)該正好充滿畫面。在取景偏大或偏小的情況下,應(yīng)盡量使4:3區(qū)域中的J1、K1、J2、K2、JD、KD處于畫面中心。
b.測試四角分辨率時,要分別將四角上的十字型測試單元置于畫面角落。實際操作可以將其16:9端線貼在畫面外框,測量這一端上下兩個角的分辨率,再測另一側(cè)兩個角的分辨率。
4、鏡頭設(shè)置
鏡頭設(shè)置包括曝光時間、白平衡、亮度、色彩、Gamma校正、拍攝模式攝像鏡頭在進行測試時,需要選擇預(yù)設(shè)定的模式,采用默認(rèn)的設(shè)置拍攝即可。若果在特殊效果下拍攝測試,就需要給出說明。
低對比度分辨力檢測模體也叫分辨率測試卡,用于測量X射線系統(tǒng)的分辨率,以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點的圖像質(zhì)量。是由黑色和白色的線組成,頻率不一,分布在不同的水平和垂直方向。